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コマ, アツシ
小間, 篤
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著者の属性
個人
一般注記
東京大学工学部物理工学科修士課程
「シリコの物性と評価法」の共著者
東京大学理学部化学科教授
から見よ参照
Koma, Atsushi
コード類
典拠ID=0000001717 NCID=DA01319234
1
表面物性測定 / 小間篤編
東京 : 丸善 , 2001.9
2
試料作製技術 / 小間篤編
東京 : 丸善 , 2000.7
3
試料作製技術 / 小間篤編
東京 : 丸善 , 1999.10
4
表面・界面の電子状態 / 小間篤編
東京 : 丸善 , 1997.8
5
表面科学入門 / 小間篤 [ほか] 編著
東京 : 丸善 , 1994.11
6
シリコンの物性と評価法 / 小間篤 [ほか] 共著
東京 : 丸善 , 1987.7
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