ザンリュウ オウリョク ノ Xセン ヒョウカ : キソ ト オウヨウ
残留応力のX線評価 : 基礎と応用 / 田中啓介, 鈴木賢治, 秋庭義明共著
| Material Type | Books |
|---|---|
| Publisher | 東京 : 養賢堂 |
| Year | 2006.7 |
| Language | Japanese |
| Size | vii, 363p ; 21cm |
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| Location | Volume | Call No. | Barcode No. | Status | ISBN | Media type | Restriction | Request Memo | Reserve |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2F書庫1-和書 |
|
501.32/Ta84 | 010413047 | 484250384X | 図書 |
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| Other titles | other title:Evaluation of residual stresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications variant access title:残留応力のX線評価 : 基礎と応用 variant access title:Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications |
|---|---|
| Notes | 参考文献: 各章末 欧文タイトルは標題紙裏による 欧文タイトル (誤植): Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications |
| Authors | 田中, 啓介(1943-) <タナカ, ケイスケ> 鈴木, 賢治(1958-) <スズキ, ケンジ> 秋庭, 義明(1959-) <アキニワ, ヨシアキ> |
| Subjects | NDLSH:応力 |
| Classification | NDC9:501.32 |
| ID | 1000091964 |
| ISBN | 484250384X |
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