テスト ワ ナンノ タメ ニ アル ノカ : コウモク ハンノウ リロン カラ ニュウシ セイド オ カンガエル
テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える / 光永悠彦編著 ; 西田亜希子著
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 京都 : ナカニシヤ出版 |
| 出版年 | 2022.9 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | ix, 239p : 挿図 ; 26cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | ISBN | 資料種別 | 利用注記 | 請求メモ | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2F開架-和書 |
|
376.87/Mi66 | 3000020870 | 9784779516832 | 図書 |
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書誌詳細を非表示
| 別書名 | 裏表紙タイトル:Item response theory その他のタイトル:テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方 標題紙タイトル:test |
|---|---|
| 一般注記 | 「テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方」(2017年刊)の姉妹編 参考文献: p233-237 事項索引: p238 人名索引: p.239 |
| 著者標目 | 光永, 悠彦 (1979-) <ミツナガ, ハルヒコ> 西田, 亜希子 (1976-) <ニシダ, アキコ> |
| 件 名 | NDLSH:教育測定 NDLSH:試験 (教育) BSH:入学試験(大学) NDLSH:入学試験 -- 大学 -- 日本 |
| 分 類 | NDC9:371.7 NDC9:376.8 NDC10:376.87 NDLC:FB35 |
| 書誌ID | 4000022632 |
| ISBN | 9784779516832 |
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