テスト ワ ナンノ タメ ニ アル ノカ : コウモク ハンノウ リロン カラ ニュウシ セイド オ カンガエル
テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える / 光永悠彦編著 ; 西田亜希子著
| Material Type | Books |
|---|---|
| Publisher | 京都 : ナカニシヤ出版 |
| Year | 2022.9 |
| Language | Japanese |
| Size | ix, 239p : 挿図 ; 26cm |
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| Location | Volume | Call No. | Barcode No. | Status | ISBN | Media type | Restriction | Request Memo | Reserve |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2F開架-和書 |
|
376.87/Mi66 | 3000020870 | 9784779516832 | 図書 |
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| Other titles | back cover title:Item response theory other title:テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方 title page title:test |
|---|---|
| Notes | 「テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方」(2017年刊)の姉妹編 参考文献: p233-237 事項索引: p238 人名索引: p.239 |
| Authors | 光永, 悠彦 (1979-) <ミツナガ, ハルヒコ> 西田, 亜希子 (1976-) <ニシダ, アキコ> |
| Subjects | NDLSH:教育測定 NDLSH:試験 (教育) BSH:入学試験(大学) NDLSH:入学試験 -- 大学 -- 日本 |
| Classification | NDC9:371.7 NDC9:376.8 NDC10:376.87 NDLC:FB35 |
| ID | 4000022632 |
| ISBN | 9784779516832 |
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