OPTICAL CHARACTERIZATION OF EPITAXIAL SEMICONDUCTOR LAYERS
Optical characterization of epitaxial semiconductor layers / Gnther Bauer, Wolfgang Richter, editors
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Berlin ; New York : Springer-Verlag |
| 出版年 | 1996 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xiv, 429 p. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | ISBN | 資料種別 | 利用注記 | 請求メモ | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1F書庫3-洋書 |
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549.9/B 28 | 010042747 | 354059129X | 図書 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Bauer, G. (Gnther), 1942- Richter, Wolfgang, 1940- |
| 件 名 | LCSH:Semiconductors -- Optical properties LCSH:Heterostructures LCSH:Epitaxy LCSH:Crystal growth |
| 分 類 | LCC:IN PROCESS DC20:537.6/22/0287 |
| 書誌ID | 1000072259 |
| ISBN | 354059129X |
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